多功能分體式氙氣閃頻儀15W系列

MS-230DA

型號 MS-230DA

多功能分體式氙氣閃頻儀

產品參數

產品應用

在半導體硅板的加工過程中，越來越多的制造廠商開始重視對其壽命的測試，這個測試涉及對金屬雜質含量及結晶瑕疵的判斷和分析。因此日本NAPSON公司結合SUGAWARA的閃頻儀技術，研發設計出針對硅板壽命測試的專用檢測設備。

壽命測試是指用氙氣閃光燈對硅板進行短暫照射增加正負極電子數量，在硅體電子數量伴隨使用時間減少后，通過照射增加到原來的數量，恢復到初始狀態。P型硅晶體通常會有大量正極電子，而N型則是負極電子偏多，通過氙氣閃光燈的短暫照射，可以使各自的電子數量恢復到原始狀態。

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